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可控硅（晶闸管）是一种半导体开关元件，常用于电机控制、调光、开关电源等电路中，要测量可控硅（晶闸管）的好坏，可以采用以下方法：
1、外观检查：首先检查可控硅的外观是否完好，是否有损坏或烧焦的迹象，如果外观有问题，那么可控硅可能已经损坏。
2、万用表测量：使用万用表可以测量可控硅的通断性和电阻值，将万用表调到电阻挡，测试可控硅的三个引脚之间的电阻值，正常情况下，三个引脚之间的电阻值应该不同，如果测试结果显示无穷大或者电阻值很小，那么可控硅可能已经损坏。
3、门极触发能力测试：对于可控制的可控硅（如双向可控硅），可以测试其门极触发能力，使用适当的触发电压和电流信号，触发可控硅导通，然后使用万用表或示波器观察其导通情况，如果可控硅无法被触发或者触发后无法导通，那么可能存在问题。
4、耐压测试：使用耐压测试仪或高压电源对可控硅进行耐压测试，观察其是否能够在额定电压下正常工作，如果可控硅在耐压测试过程中出现故障或损坏，那么可能已经损坏。
测试方法需要一定的专业知识和经验，如果不熟悉可控硅的测试方法，建议寻求专业人士的帮助，在进行任何测试之前，请确保采取适当的安全措施，以避免触电或其他危险。
至于“可控硅晶闸管”的测量方法，其实与上述可控硅的测量方法类似，因为晶闸管是可控硅的一种类型，按照上述方法对可控硅晶闸管进行测量，可以判断其好坏。
仅供参考，如需了解更多关于可控硅晶闸管测量的信息，可以咨询电子工程师或专业技术人员。